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下照式镀层测厚仪采用的是种XRF光谱分析技术,X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子,出现壳层空穴,当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时,就会产生特征X射线。
应用XRF检测金属电镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的款仪器,可自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
线路板X荧光光谱测厚仪下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
PCB镀层厚度专用检测仪THICK800A是款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),在仪器结构、功能、软件上都进行了面优化。
X荧光膜厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的款仪器,可自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
接插件金属镀层分析仪专用X射线荧光光谱仪是天瑞仪器公司经过多年研发,专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析,人性化操作界面,即可对客户样品镀层膜厚测试。
XRF-Thick800A镀层测厚仪,在质量管理方面有完善的质量管理体系,在来料、加工过程、整机、出货各个环节严格把关,确保产品的性能和质量精优。
镀铜镀银测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的款仪器,可自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
电镀层膜厚分析仪THICK800A采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。